201-54 工藝參數(shù)控制對(duì)鉬粉粒度分布的影響研究
通過(guò)變化MoO3原料粒度、一次和二次還原參數(shù),采用匯美科HMK-22費(fèi)氏粒度儀和匯美科激光粒度儀評(píng)價(jià)還原后的鉬粉平均粒度和粒度分布組成.結(jié)果表明:MoO3原料粒度與還原后鉬粉粒度和粒度分布之間 不存在直接的線性關(guān)系,原料粒度分布越寬還原后的鉬粉平均粒度越小；一次還原MoO3料層厚度增大,還原后鉬粉的粒度也增大,粒度分布變寬,D(0.5) 值略微減?。粴錃饴饵c(diǎn)升高,還原后鉬粉的粒度大,粒度分布寬,D(0.5)值也較大；二次還原溫度越低,鉬粉的粒度越小,但還原溫度變化對(duì)粒度分布的影響 較小.料層厚度增加、氫氣流量減小,還原后的鉬粉粒度均增大,粒度分布曲線右移.
